文章摘要:文章分析了传统均压测试方法中，隔离高压探头寄生参数对级联MOSFET均压效果的影响。通过改变同一高边MOSFET的DS电压测试探头数量，分析了测试方法引入寄生参数的变化对瞬态均压的干扰程度。基于此提出了一种减法均压测试方法，并对所提出的减法均压测试方法的优化进行了分析与实验验证。实验结果表明该测试方式能精确评估级联MOSFET在稳态以及开通、关断瞬态的均压效果，且不受测试线缆寄生参数的影响。

文章关键词:级联MOSFET,均压测试,高压开关,寄生参数,

项目基金:国家自然科学基金资助项目（51777041）,深圳市科技计划项目（JSGG20190823144607320）,国家科技重大专项（2017ZX01013101-003）, 上一篇： 电力工业论文_高压加热器抽汽切除及灵活调节
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